G07800 - SEMI G78 - Test Method for Comparing Automated Wafer Probe Systems Utilizing Process-Specific Measurements StdPbc-0718 処理済みウェーハに対する最終測定は電気特性であるといえよう。しかし，途中で露光に関する測定を行うことは最終的な電気特性を予測し，制御するうえで有用であるといえる。本文章の目的は使われている技術に関係なく，この露光 － 測長に関して有効に利用されることである。

処理済みウェーハに対する最終測定は電気特性であるといえよう。しかし，途中で露光に関する測定を行うことは最終的な電気特性を予測し，制御するうえで有用であるといえる。本文章の目的は使われている技術に関係なく，この露光 － 測長に関して有効に利用されることである。

CC-Linkとはベンダーから独立した，オープンなデバイスレベル・ネットワーク・スタンダードである。ベンダーからの独立性およびオープン性はCC-Link協会によって保証されている。

SEMI E125-0703 (first published)

This standard addresses the communications needs within the semiconductor manufacturing environment with respect to equipment exception handling

that might not be covered in other applicable safety guidelines and standards for industrial robots

G07800 - SEMI G78 - Test Method for Comparing Automated Wafer Probe Systems Utilizing Process-Specific Measurements StdPbc-0718 処理済みウェーハに対する最終測定は電気特性であるといえよう。しかし，途中で露光に関する測定を行うことは最終的な電気特性を予測し，制御するうえで有用であるといえる。本文章の目的は使われている技術に関係なく，この露光 － 測長に関して有効に利用されることである。This test method was technically approved by the global Automated Test Equipment Committee and is the direct responsibility of the North American Automated Test Equipment Committee. Current edition approved by the North American Regional Standards Committee on December 18, 1998. Initially available at www. semi. org April 1999; to be published June 1999. To define the terms and provide a means of comparative, or relative measurement for the automated