Semiconductor Metrology Basics StdPbc-0520 本安全ガイドラインは，複数企業同時作業エリアや，あるエリアでの一つの会社の従業員の作業が，隣接するエリアで作業する別の会社の従業員にとって危険要因（ハザード）となりうる場合において人の安全を確保する組織である安全監督者連絡協議会 (SSCC) の基準を定める。

本安全ガイドラインは，複数企業同時作業エリアや，あるエリアでの一つの会社の従業員の作業が，隣接するエリアで作業する別の会社の従業員にとって危険要因（ハザード）となりうる場合において人の安全を確保する組織である安全監督者連絡協議会 (SSCC) の基準を定める。

The assumption of wafer-to-wafer (W2W)

The application of integrated metrology is anticipated to become a key factor for advanced process control in future integrated circuit (IC) manufacturing

no materials requirements or microcontamination limits are given

Therefore it is mandatory to operate system under tight statistical process control (SPC)

Semiconductor Metrology Basics StdPbc-0520 本安全ガイドラインは，複数企業同時作業エリアや，あるエリアでの一つの会社の従業員の作業が，隣接するエリアで作業する別の会社の従業員にとって危険要因（ハザード）となりうる場合において人の安全を確保する組織である安全監督者連絡協議会 (SSCC) の基準を定める。Course Description The THORS Semiconductor Metrology Basics course introduces the learners to the significance of testing in semiconductor manufacturing. This course focuses on key measurements in semiconductor metrology for defect inspection and process control. Presented in THORS' highly visual and interactive learning format, this course will equip the learners with a foundational knowledge of semiconductor metrology. Learning Objectives Recognize